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電路板

iNEMI電路板質(zhì)量問題解決方案

文章出處:http://chenesaiafrica.com網(wǎng)責任編輯:恒成和電路板作者:恒成和線路板人氣:-發(fā)表時間:2016-03-24 16:44:00

由公司組成的國際電子制造商聯(lián)盟(iNEMI)啟動了三個項目,旨在幫助制造商改進印刷電路板(PCB)的質(zhì)量。其中一個項目是為了建立一種評估功能測試故障覆蓋率的標準方法,第二個項目是為了鼓勵元件制造商更廣泛地采用邊界掃描技術(shù),第三個項目是為了建立一種測試印刷電路組裝的機械性能的方法。

  iNEMIS表示,其使命是發(fā)現(xiàn)技術(shù)差距,并通過鼓勵加快部署新技術(shù)、開發(fā)行業(yè)基礎(chǔ)設施、推廣有效的商業(yè)實踐及鼓勵采用標準來彌補這些技術(shù)差距。該聯(lián)盟通過技術(shù)綜合組(TIG)開展項目,這些TIG是圍繞評估行業(yè)最重要需求的iNEMI路線圖中確定的特定領(lǐng)域組織的。圖1顯示了該路線圖的基本項目模型。電路板級項目通過惠普的Rosa Reinosa和英特爾的J.J. Grealish主持的電路板和系統(tǒng)生產(chǎn)測試TIG開展。

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  1 評估功能測試的故障覆蓋率

  iNEMI的電路板測試TIG麾下開展的第一個項目是力求創(chuàng)建一個量化模型,來估算和預測功能測試的故障覆蓋率。英特爾的測試開發(fā)工程師Tony Taylor最初于2006年在臺灣提出了建立電路板制造商和設備供應商論壇的想法。論壇參與者希望得到行業(yè)更廣泛的反饋意見以便制定一致的指導方針,他們還建議Taylor與iNEMI合作。該項目由Taylor主持,涉及大量在其他領(lǐng)域激烈競爭的企業(yè),這些企業(yè)維持著一種合作氛圍,意識到他們的工作成果將使每一個人受益。

  Taylor評論說:“我們從一開始就理解,功能測試與在線測試[ICT]和自動化光學檢測 [AOI]等結(jié)構(gòu)性測試技術(shù)有著根本的區(qū)別。那些方法依靠比較可預測的標準,并使用供應商提供的設備,所以允許采用相當一致的故障覆蓋方法。”

  他補充說:“功能測試需要在產(chǎn)品的本地環(huán)境中高速運行。如果使用不同供應商的具有不同功能的傳統(tǒng)堆架式儀器或儀器卡來監(jiān)測電路板的性能,則不可避免地產(chǎn)生多種不同的結(jié)果。此外,在功能測試中,可將問題范圍縮小到執(zhí)行某個特定功能的電路元件,但是不一定縮小到單個元件的狀況或特性。這樣無法進行完全自動的故障覆蓋分析。”

  該組在初期就認識到,盡管各種電路板測試技術(shù)在一定程度上有所重疊,但是功能測試可提供結(jié)構(gòu)性測試不能提供的電路性能信息。目的是盡可能以結(jié)構(gòu)等效術(shù)語重新解釋功能測試,添加功能測試獨有的覆蓋功能,以及建立一種整個行業(yè)的企業(yè)均可用作參考的框架。iNEMI將發(fā)布結(jié)果。

  Taylor繼續(xù)說:“我們希望代表電路板測試領(lǐng)域所有觀點的企業(yè)都能參與。參與者將為我們帶來獨特的觀點和大量經(jīng)驗。項目將首先確立方法的基礎(chǔ)。然后,各公司將實施方法,并提供關(guān)于方法有效性方面的反饋。”

  創(chuàng)建方法方面的一個關(guān)注點是確定評估標準。工程師分析電路板原理圖和測試代碼的初步理論分析,將提供關(guān)于如何確定一項測試計劃是否涵蓋一種電路板關(guān)鍵功能的一次通過率規(guī)范。一般而言,單是理論分析對于主要采用穩(wěn)定技術(shù)的低成本或低利潤率的電路板就足夠了。將電路板與實際儀器掛鉤監(jiān)測測試可增強對理論分析的信心,但是也增加了所需的時間和成本。測試預算可能不允許在低成本電路板、有大量元件(大幅度增加評估時間)和高度復雜電路(導致確定故障覆蓋率既耗時又模糊不清)的電路上進行這些額外操作。

  如果產(chǎn)品可以保證提供高度可信的故障覆蓋評估,可能需要采取額外步驟注入故障,以確定在具有已知缺陷的電路板上運行測試是否能夠發(fā)現(xiàn)缺陷。理論分析可能預測出測試將覆蓋某些故障,但是監(jiān)測可能顯示當實際運行測試時預測的故障覆蓋率無效。

  來看看采用耦合電容器的交流耦合差分對。在某些電路中,拆除耦合電容器不會導致測試失敗。有開口的差分線可采用電容方式跨接其他線路或連接器/元件引腳耦合,盡管信號完整性較差,但仍可到達差分接收器。理論分析可預測故障,但是盡管有故障,實際測試卻可以通過。在實際使用中,這種電路板可能出現(xiàn)間歇性運行故障。

  另一種情況是,跟蹤一段測試代碼可能表明一定程度的覆蓋,但是由于編碼錯誤,該段代碼實際上永遠不會執(zhí)行。同樣,理論分析預測的是不存在的覆蓋。

  該TIG提出了一種包含以下內(nèi)容的方法:

  * 以現(xiàn)有的結(jié)構(gòu)性覆蓋術(shù)語重新解釋功能測試,

  * 引進功能測試獨有的新覆蓋元素,

  * 以有意義和可重現(xiàn)的方式報告功能測試覆蓋。

  該組將運用這種方法測試三種全然不同的產(chǎn)品,包括可植入醫(yī)療產(chǎn)品、光網(wǎng)絡電路板和PC服務器電路板,這些測試采用多種不同的技術(shù),具有不同的復雜性并可產(chǎn)生多種不同的故障結(jié)果。

  Taylor接著說:“我們將在這些產(chǎn)品上實施我們的初步測試方法,然后用汲取的經(jīng)驗來調(diào)整方法,如此反復,使它成為一種有用的框架。我們將發(fā)布關(guān)于提議解決方案和測試結(jié)果的足夠信息,在不透露任何專有信息的情況下允許非參與企業(yè)利用我們的工作成果。”

  他提醒說:“我們的意圖不是為了簡化流程,而是實現(xiàn)行業(yè)的統(tǒng)一。最初,我們將運行統(tǒng)計報告來確立基準點。該信息將有助于我們評估優(yōu)勢與劣勢,以及哪些數(shù)據(jù)真正有意義。”

  如果一切按照計劃進行,該TIG到年底就可得到最終結(jié)論。

. 2 推廣邊界掃描技術(shù)

  邊界掃描技術(shù)的演變幾乎可追溯到二十年前,其目的是為了解決擁擠復雜的PCB上邏輯節(jié)點的訪問空間(access)不斷減少的問題(圖2)。由于該技術(shù)的設計時間長,占用大量寶貴的空間,加之人們認為采用邊界掃描對電路板“性能”的影響即使難以確定,也是不利影響,所以設計者一直抵制使用該技術(shù)。

  電路板技術(shù)的演變?nèi)找嫫仁箿y試工程師在電路板設計中采用邊界掃描。因此,電路板測試TIG啟動一個項目,以期確定元件制造商的接受程度,并制定策略來提高接受程度和鼓勵元件級方案的標準化。由于思科產(chǎn)品和流程的本質(zhì)決定,很久之前邊界掃描就成為其一個重中之重的問題,所以該公司的Steve Butkovich被選為項目負責人。其他參與者包括原始設備制造商(OEM)和合同制造商等各家公司的代表。

  Butkovich評論說:“當被問到他們?yōu)槭裁床桓鼰崆榈刂С诌@一技術(shù)時,元件供應商稱沒有市場,客戶沒有足夠的需求。我們項目的目的之一就是在行業(yè)論壇中向供應商提出對該技術(shù)的需求,而非只是由幾家個別公司提出。通過采用這種方式,我們賦予這種技術(shù)更大的意義。”

  Butkovich表示,器件技術(shù)的進步大大減弱設計者早期爭論的有效性。他說:“開始,一些實施邊界掃描技術(shù)的元件供應商做得不太好。額外電路可能使器件增加四五千個門,但是當門減少時,邊界掃描占用的空間就失去了意義。自動化工具使設計者的時間縮短為幾天。曾經(jīng)高達15%的額外成本已降到添加邊界掃描根本不會增加器件成本的程度。”

  Butkovich稱,在行業(yè)論壇中將對邊界掃描的需求擺在供應商的面前,被提到了一個新的高度,強調(diào)的是這種能力對于許多產(chǎn)品測試都是必不可少的。廠商不應將包含邊界掃描元件看作是一項競爭優(yōu)勢,而是看作所有產(chǎn)品制造商都應支持的一項基本要求。

  他繼續(xù)說:“我們都看到,在達到足夠的測試覆蓋率方面,傳統(tǒng)的ICT方法已變得空前困難和不實用。由于我們生產(chǎn)的產(chǎn)品類型(圖3)的原因,許多電路中幾乎沒有包括傳統(tǒng)的訪問空間。檢測沒有提供任何有效的解決辦法。我們需要有效的電氣測試。”

  該項目的初步任務是調(diào)查12到15家公司,分析收集的信息,以調(diào)整對多達100家企業(yè)的更大范圍的調(diào)查。調(diào)查的范圍將有助于使電路板和系統(tǒng)制造商知道他們并非孤軍奮戰(zhàn),對于他們購買的器件中的功能需求并非一家公司的問題,也不是少數(shù)幾家公司的問題,實際上是整個行業(yè)的問題。

  Butkovich堅持說:“這是每個人的事情。我們希望這一項目能夠鼓勵供應商獲得適當?shù)墓ぞ哌M行過渡,通過讓器件設計者自身行動起來而使邊界掃描設備的常規(guī)生產(chǎn)盡可能簡便。我們看看市場上已有的產(chǎn)品,就知道設計者兩年前做了什么。該調(diào)查將讓我們了解到目前這一供應領(lǐng)域的現(xiàn)有產(chǎn)品。”

  第一份調(diào)查已經(jīng)發(fā)出了。Butkovich預計數(shù)據(jù)收集階段將于9月底結(jié)束,之后將大規(guī)模向行業(yè)分發(fā)數(shù)據(jù)。他指出,公布的結(jié)果將只包括趨勢和統(tǒng)計數(shù)據(jù),不包括個人的意見,以保護匿名參與者。

  如同Taylor一樣,Butkovich發(fā)現(xiàn)與這些在其他領(lǐng)域激烈競爭的企業(yè)合作營造了一種高度合作和相互支持的氛圍。他評價說:“這些企業(yè)可能互相競爭,但是測試工程師一般不這樣看待他們自己。該項目與專有信息無關(guān),而是要提供一種所有人都可使用的方法,幫助所有人提高質(zhì)量。通過讓iNEMI的參與,我們創(chuàng)造了一個非對壘區(qū),推動行業(yè)整體向前發(fā)展。這也是企業(yè)加入iNEMI的原因之一。”

. 3 電路板的彎曲方式

  轉(zhuǎn)向無鉛焊接,再加上當前PCB上的電路密度和元件類型,致使電路板可能在生產(chǎn)、處理和正常使用期間發(fā)生變形。測量電路板易受彎曲損害影響的標準(IPC/JEDEC 9702和9704)也需要更新,以反映這些技術(shù)變化。此外,制造商應用現(xiàn)有應變測試方法的途徑不一致造成評估損害風險的混亂。這些問題催生了電路板彎曲標準化項目,由惠普的Reinosa和英特爾的Alan McAllister共同主持。

  Reinosa解釋說,項目的首要目標之一是將球面彎曲測試方法(圖4)整合到標準中,以驗證電路板的機械性能。她說:“目前的IPC/JEDEC 9702標準概括了四點彎曲技術(shù),但是不包括球面彎曲測試方法。英特爾開發(fā)的方法更加準確地監(jiān)測最壞情況的彎曲測試條件,惠普和其他企業(yè)已經(jīng)采用。球面彎曲將有助于元件制造商更加準確地判斷特定封裝的應力限制。IPC可利用我們的結(jié)果修改現(xiàn)有標準,也可決定引進它作為一項單獨的標準。”

  電路板彎曲項目還計劃解決制造商提出的應變規(guī)范的方法問題。Reinosa說:“表達最大應變的方法有兩種,分別是主應變和對角線應變。客戶可能不理解這兩者之間的區(qū)別。制造商和供應商對應變限制的表達和使用必須一致。”

  通過部分引進新的應變測量標準或修改現(xiàn)有標準,可了解影響電路板應變的因素。一些參與公司已開始開展這方面的調(diào)查。Reinosa說:“我們將看到各種材料和電路板功能的效果,例如,電路板層壓材料、BGA 封裝尺寸以及焊墊的尺寸和類型。結(jié)果取決于焊接類型。無鉛焊料比各種有鉛焊料更不易彎曲。當電路板變形時,轉(zhuǎn)移到電路板層壓材料的負荷要多于錫鉛焊料的情況,所以制造商需要降低最大容許應變,以確保電路板的質(zhì)量。”

  Reinosa強調(diào)說:“我們無論向標準組織提出什么建議,都不會規(guī)定對特定電路板、元件或技術(shù)的實際應變限制。每家公司都需要決定每種電路板或產(chǎn)品可承受的最高風險級別。元件制造商可能對他們生產(chǎn)的每種BGA規(guī)定不同的應變限制,因此電路板的限制取決于該電路板的設計、材料和BGA組合。即使在一家公司內(nèi)部,這種限制都可能取決于每種產(chǎn)品的使用。例如,筆記本和手機中的主板可能比臺式電腦中的主板經(jīng)受更多的周期應變。”

  此外,項目參與者可能對故障標準達成一致意見,也可能達不成一致意見。確定哪些測試結(jié)果證明電路板測試失敗將取決于每種產(chǎn)品、產(chǎn)品線以及特定公司指導方針的特征。

Reinosa指出:“對于一種產(chǎn)品,一家公司可能將任何損壞都視為故障。另一種產(chǎn)品或另一家公司可能有不同的故障標準。”

  為了成功地推動標準向前發(fā)展,該項目需要生成、分析和提出許多數(shù)據(jù)。“IPC和JEDEC不會修改他們的標準,除非提議的修改與制造商的實際體驗相符。參與的企業(yè)需要共享他們的實驗數(shù)據(jù)。向公眾提供的信息可能比較籠統(tǒng),但是如果沒有具體數(shù)據(jù),委員會將不會采取必要的行動。”

  與其他電路板級項目一樣,彎曲項目的時間安排也比較緊湊。該TIG計劃到2008年底向IPC和JEDEC提交調(diào)查結(jié)果。Reinosa預計這兩家機構(gòu)做出決定的速度比標準爭論中通常的速度要快得多。

  她說:“通過借助于iNEMI開展工作,到我們提出建議時,已經(jīng)整合了大量相互對立的觀點。這類項目還將對所討論問題擁有不同經(jīng)驗的企業(yè)召集到一起。一家公司可能比較了解層壓,另一家企業(yè)可能比較了解封裝尺寸,而第三家可能精通焊點特性。如果他們中的每家公司都提交自己的結(jié)果,那么我們建議的標準將盡可能體現(xiàn)各家公司的一致意見。”

  Reinosa繼續(xù)說:“我們不會強制要求甚至也不會推薦電路板厚度、材料或制造工藝本身任何其他具體方面的最大應變水平標準。我們的目標只是提供一種證實有效的方法來確定應變限制。目前,OEM可能為同一合同制造商指定不同的驗收標準。我們希望通過提供一組反映先前的標準采用以來電路板技術(shù)和方法演變的新標準,幫助制造商為客戶提供一致、可預測的電路板性能與可靠性。”

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